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LSCF1000線掃光譜共焦傳感器

LSCF1000線掃光譜共焦傳感器是一款新型、快速、準(zhǔn)確的3D輪廓測(cè)量產(chǎn)品。該產(chǎn)品線掃長(zhǎng)度達(dá)8.8mm,滿深度下可實(shí)現(xiàn)2600線/秒的測(cè)量速度,具有亞微米級(jí)別的分辨率。獲得科技部“智能傳感器” 重點(diǎn)專項(xiàng)2022年度項(xiàng)目立項(xiàng)。
LSCF1000線掃光譜共焦傳感器
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共焦技術(shù)原理介紹


同軸共焦技術(shù)

? 點(diǎn)式光譜共焦法使用白光作為光源,通過(guò)色散模組把白光 色散并使得不同波長(zhǎng)的光聚焦在不同的高度上,然后根據(jù)接收到的反射光波長(zhǎng)信息,可以精確地測(cè)量待測(cè)物的高度信息

? 需要長(zhǎng)時(shí)間掃描才能生成輪廓或區(qū)域數(shù)據(jù) 

? 難以進(jìn)行多層掃描(斷層掃描)


線共焦技術(shù)

? 線共焦成像技術(shù)是一種基于橫向色相差的光學(xué)檢測(cè)方法,該方法將傳感器中的發(fā)射器發(fā)出的白光分成連續(xù)的波長(zhǎng)光譜。 每個(gè)波長(zhǎng)都聚焦在距傳感器一定距離的被測(cè)表面上,以形成垂直焦平面

? 提供計(jì)量級(jí)別的分辨率和準(zhǔn)確性,同時(shí)進(jìn)行高速成像


光譜共焦技術(shù)測(cè)量原理

? 線共焦傳感器的核心優(yōu)勢(shì)在于,以超快掃描速率通過(guò)線掃同時(shí)生成三維形貌數(shù)據(jù),避免了 有光澤金屬表面的帶來(lái)的反射影響,同時(shí)對(duì)透明體的測(cè)量有獨(dú)到優(yōu)勢(shì)。 

? 下面兩圖分別為線共焦成像技術(shù)原理圖和工作流程圖。



產(chǎn)品概況


LSCF1000線掃光譜共焦傳感器是一款新型、快速、準(zhǔn)確的3D輪廓測(cè)量產(chǎn)品。該產(chǎn)品線掃長(zhǎng)度達(dá) 8.8mm,滿深度下可實(shí)現(xiàn)2600線/秒的測(cè)量速度, 具有亞微米級(jí)別的分辨率。獲得科技部“智能傳 感器” 重點(diǎn)專項(xiàng)2022年度項(xiàng)目立項(xiàng)。

支持多層透明材料測(cè)量

內(nèi)置LED白色光源,不僅滿足產(chǎn)品表面測(cè)量,還支持多層透明材料測(cè)量,應(yīng)用領(lǐng)域更廣泛、產(chǎn)品類型更豐富。

精度高速度快

產(chǎn)品線掃描長(zhǎng)度達(dá)8.8mm,滿深度下實(shí)現(xiàn)2600線/秒的測(cè)量,且具有亞微米級(jí)別分辨率,Z軸重復(fù)精度0.25μm。

應(yīng)用范圍廣

X方向分辨率達(dá)4.3μm,測(cè)量不受反光影響,弧形邊框亦可精確測(cè)量,打破常規(guī)產(chǎn)品測(cè)量形狀的局限。




外觀及實(shí)物圖


數(shù)據(jù)分析界面



應(yīng)用場(chǎng)景和領(lǐng)域


應(yīng)用場(chǎng)景: 

  • u材質(zhì)適應(yīng)性好:對(duì)各種材質(zhì)均有較好的檢測(cè)效果,尤其對(duì)透明/半透明材質(zhì)及層析、鏡面/拋光表面的檢測(cè)具有優(yōu)勢(shì)。 

  • u晶圓/芯片/電芯等精密件外觀及缺陷檢測(cè) 

  • u位置、形貌測(cè)量。用于精密設(shè)備組裝、零部件安裝位置、角度及形貌等信息的確認(rèn)與識(shí)別。


應(yīng)用領(lǐng)域: 

  • u顯示面板:點(diǎn)膠貼合、錫膏檢測(cè)、膠水厚度 

  • u半導(dǎo)體:晶圓缺陷、芯片輪廓、BGA切割道、電極針腳 

  • u3C產(chǎn)品:折疊屏、蓋板玻璃、攝像頭模組、裝配偏差 

  • u新能源:電芯檢測(cè)、表面刮傷



應(yīng)用案例


光譜共焦在汽車行業(yè)的應(yīng)用

汽車制造需要對(duì)汽車玻璃、輪胎、車漆、鋰電隔膜、儀表盤(pán)、中控顯示屏、汽車座椅等各類零部件進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)和 品質(zhì)管控。線光譜共焦傳感器可對(duì)汽車制造質(zhì)檢環(huán)節(jié)各種應(yīng)用場(chǎng)景進(jìn)行全棧式檢測(cè),幫助汽車制造企業(yè)提高產(chǎn)品合 格率,提升生產(chǎn)效率。

? 材質(zhì)適應(yīng)性廣,對(duì)各種材質(zhì)均有較好的檢測(cè)效果 

? 精度高速度快,易集成,適合研發(fā)及產(chǎn)線測(cè)試 

? 適合測(cè)量各種精密部件、透明物、金屬表面缺陷等


? 鈑金裝配縫隙高差/間隙/段差檢測(cè)

? 高連接件表面裂紋/噴涂平整度檢測(cè)

? 高度/輪廓/段差/共面性/厚度


? 芯片表面輪廓/凸起/異物/引腳檢測(cè) 

? 車載屏gap/高低差/裝配精度/膠水/屏幕表面輪廓 

? 汽車玻璃平整度/外觀/裂紋/氣泡檢測(cè)


? 鋰電池外殼封邊/表面輪廓檢測(cè)

? 金屬薄膜劃痕/凹陷/毛刺/異物/褶皺

? 電極高度/邊緣毛刺電芯外觀/極片涂層氣泡缺陷



實(shí)例應(yīng)用:VIVO X Fold 2折疊縫深度檢測(cè)

折疊痕深度測(cè)試: 

分別在折疊測(cè)試前及10萬(wàn)次折疊測(cè)試后,選取五個(gè)位置測(cè)量折疊痕的深度。

折疊0次深度平均值:5x.xxμm。 

折疊10萬(wàn)次深度平均值:xxx.xxμm。



實(shí)例應(yīng)用: VIVO X Fold 2 logo檢測(cè)

測(cè)試logo深度和寬度:



實(shí)例應(yīng)用:蓋板玻璃測(cè)試

? 平整度:掃描整個(gè)蓋板玻璃表面檢測(cè)平整度。 

? 裂紋和氣泡:發(fā)現(xiàn)玻璃表面及內(nèi)部的裂紋和氣泡等缺陷。 

? 蓋板組裝精度:掃描蓋板玻璃邊緣與后蓋的高度差是否一致

優(yōu)勢(shì)點(diǎn):

  • 采用離軸光學(xué)和橫向色相差設(shè)計(jì),不僅精度高,也能避免強(qiáng)光干擾。

  • 適合測(cè)量玻璃/金屬等高反射率或高透射率等材質(zhì)。

  • 線激光、結(jié)構(gòu)光和TOF等3D輪廓檢測(cè)設(shè)備由于反射光,對(duì)玻璃這類 高反光材質(zhì)測(cè)量效果不佳。



實(shí)例應(yīng)用:玻璃及皮革檢測(cè)

? 檢測(cè)后蓋玻璃表面及內(nèi)部的缺陷、玻璃和皮革的高度差

優(yōu)勢(shì)點(diǎn):對(duì)材質(zhì)適應(yīng)性較好,不論強(qiáng)反光(玻璃)還是弱反光(皮革) 均有較好的測(cè)量效果。



實(shí)例應(yīng)用:芯片檢測(cè)

? 芯片背面凸起:



實(shí)例應(yīng)用:手機(jī)后蓋弧邊

? 手機(jī)后蓋弧邊:



實(shí)例應(yīng)用:2.5D玻璃掃描

? 2.5D玻璃掃描



實(shí)例應(yīng)用效果展示- LED燈珠掃描

? 滴膠LED燈珠掃描:





實(shí)例應(yīng)用:菲尼爾透鏡掃描

? 菲涅爾透鏡掃描:



實(shí)例應(yīng)用: 膠路掃描

? 膠路掃描:



實(shí)例應(yīng)用: BGA切割道

BGA切割道偏移



實(shí)例應(yīng)用: Flip電極

? Flip chip電極:


? 電極空間俯視視圖:可以精準(zhǔn)提取電極所在位置并標(biāo)出高度。


? 電極的高度整體分布:


電極的高度分布統(tǒng)計(jì)

  • 基本符合正態(tài)分布 

  • bumping高度均值:25.58um 

  • 約有95.5%的電極高度處于(21.50um- 29.67um)的范圍內(nèi)



實(shí)例應(yīng)用:錫膏檢測(cè)


缺陷判定:根據(jù)面積、體積判定缺陷類型,輸出缺陷參數(shù)及位置。



專業(yè)化服務(wù)

售前 

? 資料介紹、產(chǎn)品演示 

? 協(xié)助進(jìn)行方案論證、需求分析 

? 配合客戶軟件優(yōu)化、系統(tǒng)集成與調(diào)試 

? 研討交流與研討培訓(xùn)


售后 

? 1年品質(zhì)保證 

? 現(xiàn)場(chǎng)技術(shù)服務(wù) 

? 遠(yuǎn)程技術(shù)支持 

? 原理培訓(xùn) 

? 系統(tǒng)優(yōu)化方案升級(jí)

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