優(yōu)勢

• 基于雙折射應(yīng)力測量模型實(shí)現(xiàn)光學(xué)延遲和內(nèi)應(yīng)力分布二維測量

• 包含多波長測量功能，光學(xué)延遲測量量程大

適用對象

適用于精密光學(xué)元件（平晶，棱鏡，波片，透鏡等）的內(nèi)應(yīng)力檢測

適用領(lǐng)域

光學(xué)注塑，玻璃模壓，玻璃熱彎工藝

測量原理

基于偏振光應(yīng)力雙折射效應(yīng)檢測材料內(nèi)部殘余應(yīng)力分布。當(dāng)材料由于加工工藝溫度梯度和內(nèi)部缺陷導(dǎo)致產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力時(shí)，材料會呈現(xiàn)出應(yīng)力雙折射效應(yīng)，偏振光透過它時(shí)會發(fā)生偏振態(tài)調(diào)制，通過測量透射光的斯托克斯矢量可以推算出材料的光學(xué)延遲量，從而測量出材料內(nèi)應(yīng)力分布。

實(shí)測案例

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